An automatic test generation system for microprocessor VLSI
autor
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 104-113
seeria-sari
seeria variantpealkiri
TTÜ Toimetised ; 696
Труды ТТУ ; 696
märkused
Bibliogr. : 5 ref
keel
inglise
Kont, T. An automatic test generation system for microprocessor VLSI // Машинное проектирование электронных устройств и систем. Tallinn : Tallina Tehnikaülikool, 1989. p. 104-113. (Tallinna Tehnikaülikooli toimetised = Труды Таллинского технического университета = Transactions of Tallinn Technical University ; 696, Электротехника и автоматика ; 37).