prindi

Automated area and coverage optimization of minimal latency checkers

autor
Azad, Siavoosh Payandeh
Niazmand, Behrad
Apneet Kaur
Raik, Jaan
Jervan, Gert
Hollstein, Thomas
vastutusandmed
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Apneet Kaur Sandhu, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
allikas
2017 22nd IEEE European Test Symposium (ETS 2017), Limassol, Cyprus, 22 – 26 May 2017 : proceedings
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2017
leheküljed
p. 7-8 : ill
konverentsi nimetus, aeg
22nd IEEE European Test Symposium (ETS 2017), 22 - 26 May 2017
konverentsi toimumispaik
Limassol, Cyprus
leitav
https://doi.org/10.1109/ETS.2017.7968211
märksõna
nanoelektroonika
rikked
ISSN
1530-1877
ISBN
978-1-5090-5458-9
märkused
Bibliogr.: 5 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Azad, S.P., Niazmand, B., Apneet Kaur, Raik, J., Jervan, G., Hollstein, T. Automated area and coverage optimization of minimal latency checkers // 2017 22nd IEEE European Test Symposium (ETS 2017), Limassol, Cyprus, 22 – 26 May 2017 : proceedings. Piscataway : IEEE, 2017. p. 7-8 : ill. https://doi.org/10.1109/ETS.2017.7968211