The measurement and tuning of SiC diode voltage doubler represented as diffusion-welded stack [Online resource]
vastutusandmed
Jana Toompuu, Natalja Sleptsuk, Raul Land, Oleg Korolkov, Toomas Rang
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
4 p.: ill
konverentsi nimetus, aeg
16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), October 8-10, 2018
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
ISSN
1736-3705
ISBN
978-1-5386-7313-3
märkused
Bibliogr.: 4 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
silicon carbide JBS diodes
Toompuu, J., Sleptšuk, N., Land, R., Korolkov, O., Rang, T. The measurement and tuning of SiC diode voltage doubler represented as diffusion-welded stack [Online resource] // BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018. : IEEE, 2018. 4 p.: ill.