TalTech publikatsioonid
pealdis Bagbaba, A. C., Jenihhin, M., Raik, J., Sauer, C.
TTÜ struktuuriüksus arvutisüsteemide instituut
maakood us
keel inglise
autor Bagbaba, Ahmet Cagri
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Sauer, Christian
pealkiri Accelerating transient fault injection campaigns by using Dynamic HDL Slicing
vastutusandmed Ahmet Cagri Bagbaba, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Christian Sauer
allikas 2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019, Helsinki, Finland : proceedings in IEEE Xplore
ilmumiskoht Danvers
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta 2019
leheküljed 7 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg 2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS): NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019
konverentsi toimumispaik Helsinki, Finland
märksõna rikked
tõrketaluvus
kompuutersimulatsioon
töökindlus
ohutus
võtmesõna fault injection
fault simulation
functional safety
transient faults
ISO26262
RTL
CPU
ISBN 978-1-7281-2769-9
märkused Bibliogr.: 24 ref
url https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2019.8906932