TalTech publikatsioonid
pealdis Azad, S.P., Oyeniran, A.S., Ubar, R.
TTÜ struktuuriüksus arvutis├╝steemide instituut
maakood us
keel inglise
autor Azad, Siavoosh Payandeh
Oyeniran, Adeboye Stephen
Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri Replication-based deterministic testing of 2-dimensional arrays with highly interrelated cells
vastutusandmed Siavoosh Payandeh Azad, Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar
allikas 21st IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : DDECS 2018 : Budapest, Hungary 25-27 April, 2018 : proceedings
ilmumiskoht Piscataway
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta 2018
leheküljed p. 21-26 : ill
konverentsi nimetus, aeg 2018 IEEE 21st International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 25-27 April, 2018
konverentsi toimumispaik Budapest, Hungary
märksõna testimine
testid
tarkvara
riistvara
vormimärksõna konverentsikogumikud
võtmesõna two-dimensional array testing
multiplier test
data-controlled circuit partition
test replication
built-in self-test
ISSN 2473-2117
ISBN 978-1-5386-5754-6
märkused Bibliogr.: 21 ref
url https://doi.org/10.1109/DDECS.2018.00011