Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

timing-critical path (võtmesõna)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 4
Vaata veel.. (1/74)
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (4)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Application specific true critical paths identification in sequential circuitsJürimägi, Lembit; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Devadze, Sergei; Oyeniran, Adeboye Stephen2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2019) : 1-3 July 2019, Greece2019 / p. 299-304 : ill https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854442

artikkel kogumikus
2

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Fast identification of true critical paths in sequential circuitsUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Jürimägi, LembitMicroelectronics reliability2018 / p. 252-261 : ill https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.11.027 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG
3

artikkel kogumikus

Hierarchical timing-critical paths analysis in sequential circuitsJürimägi, Lembit; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Devadze, Sergei; Kostin, Sergei2018 IEEE 28th International Symposium on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS 2018) : 2 – 4 July 2018, Spain2018 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/PATMOS.2018.8464176

artikkel kogumikus
4

artikkel kogumikus

A scalable technique to identify true critical paths in sequential circuitsUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanProceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany2017 / p. 152-157 : ill https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 4, kuvan 1 - 4

1. timing-critical path
2. timing-critical paths
3. critical path
4. critical path fault tracing
5. critical path identification
6. critical path method
7. critical path tracing
8. fault simulation with critical path tracing
9. NBTI-critical path
10. disclosure timing
11. hierarchical timing analysis
12. static timing analysis
13. timing
14. timing analysis
15. timing circuits
16. timing verification
17. control and data path tests
18. deformation path
19. development path
20. feasible path generation
21. helical path separation
22. human path rehabilitation
23. mean free path
24. minimal path
25. multi-path
26. NBTI-induced path delay estimation
27. path analyses
28. path dependency
29. path identification
30. path loss model
31. path planning
32. reaction path
33. shortest path
34. shortest-path
35. test path synthesis
36. tracking path
37. anatase critical particle size
38. critical area identification
39. critical communication
40. critical communications
41. critical computing
42. critical contextual empiricism
43. critical control points
44. critical data studies
45. critical disclosure analysis
46. Critical employees
47. critical frequencies
48. critical health conditions
49. critical information infrastructure
50. critical infrastructure
51. critical infrastructure management
52. critical infrastructures
53. critical laboratory results
54. critical micelle concentration
55. critical nodes
56. critical political economy
57. critical ratsionalism
58. Critical Raw Materials
59. Critical realism
60. critical Reynolds number
61. critical situations
62. critical success factors
63. critical success factors (CSF)
64. critical theory of technology
65. critical thinking
66. critical-sized defects
67. lifecritical services
68. minor critical metals
69. mixed-critical system
70. NBTI-critical gate
71. optimized routing approach for critical and emergency networks
72. optimized routing approach for critical and emergency networks simulations
73. safety critical systems
74. safety-critical

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu