Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

control and data path tests (võtmesõna)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 2
Vaata veel.. (1/65)
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (2)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

High-level combined deterministic and pseudo-exhuastive test generation for RISC processorsOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Gürsoy, Cemil Cem; Raik, Jaan2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings2019 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791526

artikkel kogumikus
2

artikkel kogumikus

High-Level Combined Deterministic and Pseudo-exhuastive Test Generation for RISC ProcessorsOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2019, May 27-31, 2019, Baden-Baden, Germany : Proceedings2019 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791526

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 2, kuvan 1 - 2

1. control and data path tests
2. data-driven control
3. supervisory control and data acquisition (SCADA)
4. finite control set-model predictive control (FCS-MPC)
5. modulated finite control set-model predictive control
6. critical path
7. critical path fault tracing
8. critical path identification
9. critical path method
10. critical path tracing
11. deformation path
12. development path
13. fault simulation with critical path tracing
14. feasible path generation
15. helical path separation
16. human path rehabilitation
17. mean free path
18. minimal path
19. multi-path
20. NBTI-critical path
21. NBTI-induced path delay estimation
22. Parallel Fault Simulation with Critical Path Backtracing
23. path analyses
24. path dependency
25. path identification
26. path loss model
27. path planning
28. reaction path
29. shortest path
30. shortest-path
31. test path synthesis
32. timing-critical path
33. tracking path
34. accelerated shelf-life tests
35. bird streamer tests
36. deterministic and pseudo-exhaustive tests
37. direct-to-consumer genetic tests
38. field tests model validation
39. fine-motor tests
40. fire resistance tests
41. fire tests
42. forced oscillation and seakeeping tests
43. genetic tests
44. hand-drawn tests
45. industrial field wear tests
46. interlaboratory comparative tests
47. isothermal nucleic acid ampliﬁcation tests
48. kidney function tests
49. laboratory tests
50. Luria’s alternating series tests
51. noninstrumented nucleic acid amplification tests (NINAAT)
52. nucleic acid amplification tests (NAAT)
53. PBH tests
54. perforation tests
55. psychological tests
56. random diagnostic tests
57. rapid diagnostic tests
58. tearing tests
59. tensile tests
60. Tests
61. thermal tests
62. towing tank tests
63. tribological tests
64. wetting tests
65. 4-point bending tests

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu