Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
semiconductor device reliability (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/80)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Short-circuit protection circuits for silicon-carbide power transistors
Sadik, Diane-Perle
;
Colmenares, Juan
;
Tolstoy, Georg
;
Rabkowski, Jacek
IEEE transactions on industrial electronics
2016
/
p. 1995-2004 : ill
https://doi.org/10.1109/TIE.2015.2506628
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
80
1.
semiconductor device reliability
2.
power semiconductor device
3.
semiconductor device failure
4.
semiconductor device manufacture
5.
semiconductor device measurement
6.
semiconductor device modeling
7.
Semiconductor device packaging
8.
device-to-device (D2D)
9.
device-to-device (D2D) communication
10.
device-to-device communication
11.
metal semiconductor contacts
12.
metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)
13.
power semiconductor devices
14.
power semiconductor switches
15.
p-type transparent semiconductor
16.
semiconductor
17.
semiconductor band bending
18.
semiconductor crystals
19.
semiconductor devices
20.
semiconductor diodes
21.
semiconductor doping
22.
semiconductor heterojunctions
23.
semiconductor technology
24.
Semiconductor/electrolyte contact
25.
semiconductor-metal transition
26.
wide band gap semiconductor devices
27.
cardiac device therapy
28.
cooling device performance
29.
Counter Improvised Explosive Device (C-IED)
30.
device
31.
device capacity
32.
device characterisation
33.
Device characterization
34.
device modeling
35.
device therapy
36.
Discrete power device
37.
energy saving device (ESD)
38.
energy storage device
39.
implantable medical device
40.
Improvised Explosive Device (IED)
41.
low-power device
42.
massive device connectivity
43.
medical device
44.
microfluidic device
45.
motion-reduction device
46.
on-device transfer learning
47.
plasma-focus device
48.
Portable device
49.
projected device density of states (PDDOS)
50.
Real device
51.
robotic device
52.
storage device
53.
Superconducting device noise
54.
Wearable device
55.
cross-layer reliability
56.
engineering reliability operational probabilities
57.
framework of reliability estimation
58.
hardware reliability
59.
high reliability
60.
high reliability leadership
61.
high reliability management
62.
high reliability organizations
63.
materials reliability
64.
Network reliability
65.
power reliability
66.
power system reliability
67.
process reliability
68.
reliability
69.
reliability analysis
70.
reliability assessment
71.
reliability assessment and enhancement
72.
Reliability engineering
73.
reliability evaluation
74.
reliability optimization
75.
reliability prediction
76.
reliability verification
77.
reliability-performance trade-off
78.
soft-error reliability
79.
substation reliability
80.
system reliability
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT