IEEE European Test Symposium (ETS)

autor
Eggersgluss, Stephan
Michael, Maria K.
vastutusandmed
Stephan Eggersglüß, Said Hamdioui, Artur Jutman, Maria K. Michael, Jaan Raik, Matteo Sonza Reorda, Mehdi Tahoori, Elena-IoanaVatajelu
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
4 p
konverentsi nimetus, aeg
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
konverentsi toimumispaik
Washington, DC, USA
kvartiil
Q1
kategooria (üld)
asutuse kohta
European Test Symposium (ETS)
kohamärksõna
ISSN
2378-2250
1089-3539
ISBN
978-1-7281-4823-6
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Eggersgluss, S., Hamdioui, S., Jutman, A., Michael, M.K., Raik, J. et al. IEEE European Test Symposium (ETS) // 2019 IEEE International Test Conference (ITC). [S.l.] : IEEE, 2019. 4 p. https://doi.org/10.1109/ITC44170.2019.9000148