Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuits

vastutusandmed
Y.A.Skobtsov, D.E.Ivanov, V.Y.Skobtsov, R.Ubar
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 229-232 : ill
ISBN
9985-59-462-2
märkused
Bibliogr.: 5 ref
keel
inglise
Skobtsov, Y.A., Ivanov, D.E., Skobtsov, V.Y., Ubar, R.-J. Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuits // BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia. Tallinn : Tallinn University of Technology, 2004. p. 229-232 : ill.