Toggle navigation
Otsi
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Schölzel, Mario (autor)
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
Tühista
Leitud autorid
Schölzel, Mario
autor
teaviku laadid
raamat
artikkel ajakirjas
artikkel ajalehes
artikkel kogumikus
dissertatsioon
Open Access
Teaduspublikatsioon
aasta
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(5/38)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
nimi kasvavalt
nimi kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Advanced technical education in the age of cyber physical systems
Vierhaus, Heinrich Theodor
;
Schölzel, Mario
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
10th European Workshop on Microelectronics Education : EWME 2014 : May 14-16, 2014, Tallinn, Estonia
2014
/
p. 193-198 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
High-level modeling and testing of multiple control faults in digital systems
Jasnetski, Artjom
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Tšertov, Anton
;
Schölzel, Mario
;
Ubar, Raimund-Johannes
Formal proceedings of the 2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 20-22, 2016, Košice, Slovakia
2016
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2016.7482445
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Multiple fault testing in systems-on-chip with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Schölzel, Mario
;
Vierhaus, Heinrich Theodor
Proceedings of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT) : Dead Sea, Jordan, 14-16 December 2015
2015
/
p. 66-71 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/IDT.2015.7396738
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
autor
20
1.
Schölzel, Mario
2.
Castellana, Mario
3.
Coelho, Mario
4.
Colombo, Mario
5.
Eckert, Mario
6.
Giampietro, Mario
7.
Izquierdo, Mario
8.
Kadastik, Mario
9.
Mars, Mario
10.
Martinez-Corcoles, Mario
11.
Nicoliello, Mario
12.
Oeren, Mario
13.
Paredes Escobar, Mario Rolando
14.
Paredes, Mario
15.
Roman Garcia, Mario
16.
Roman, Mario
17.
Schlölzel, Mario
18.
Tonveronachi, Mario
19.
Viespoli, Luigi Mario
20.
Öeren, Mario
tema kohta
7
1.
Draghi, Mario, 1947-
2.
Kadastik, Mario
3.
Leier, Mario
4.
Mars, Mario
5.
Nobre von Glehn, Mario
6.
Plaas, Mario
7.
Öeren, Mario
pealkiri
6
1.
Doktoritöö kaitsmine matemaatika-loodusteaduskonnas : [14. okt. 2008. kaitses doktoritööd tehnilise füüsika õppekava doktorant Mario Kadastik : lühisõnum]
2.
Eesti kohal näeb veel looduslikku taevast : [Eesti valgusreostusest räägivad TTÜ teadlased Vladislav-Veniamin Pustõnski ja Mario Mars]
3.
Financial crisis and countermovements : comparing the times and attidudes of Marriner Eccles (1930s) and Mario Draghi (2010s)
4.
Krista Fischer ja Mario Kadastik
5.
Linnade valgustus on ajast ja arust : [kommenteerib TTÜ füüsikainstituudi insener Mario Mars]
6.
Supernõunik Mario Kadastik: suurim viga on mitte otsustada
CV
4
1.
Corcoles, Mario Martinez
2.
Kadastik, Mario 1981
3.
Mars, Mario 1980
4.
Tonveronachi, Mario 1943-
TTÜ märksõna
1
1.
Leier, Mario