Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Schölzel, Mario (autor)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(3/42)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Advanced technical education in the age of cyber physical systems
Vierhaus, Heinrich Theodor
;
Schölzel, Mario
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
10th European Workshop on Microelectronics Education : EWME 2014 : May 14-16, 2014, Tallinn, Estonia
2014
/
p. 193-198 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
High-level modeling and testing of multiple control faults in digital systems
Jasnetski, Artjom
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Tšertov, Anton
;
Schölzel, Mario
;
Ubar, Raimund-Johannes
Formal proceedings of the 2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 20-22, 2016, Košice, Slovakia
2016
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2016.7482445
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Multiple fault testing in systems-on-chip with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Schölzel, Mario
;
Vierhaus, Heinrich Theodor
Proceedings of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT) : Dead Sea, Jordan, 14-16 December 2015
2015
/
p. 66-71 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/IDT.2015.7396738
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
autor
25
1.
Schölzel, Mario
2.
Barbareschi, Mario
3.
Castellana, Mario
4.
Coelho, Mario
5.
Colombo, Mario
6.
Eckert, Mario
7.
Giampietro, Mario
8.
Izquierdo, Mario
9.
Kadastik, Mario
10.
Mars, Mario
11.
Martinez-Corcoles, Mario
12.
Martínez-Córcoles, Mario
13.
Naitana, Mario L.
14.
Nicoliello, Mario
15.
Palos, Mario F.
16.
Pansera, Mario
17.
Paredes Escobar, Mario Rolando
18.
Paredes, Mario
19.
Plaas, Mario
20.
Roman Garcia, Mario
21.
Román, Mario
22.
Schlölzel, Mario
23.
Tonveronachi, Mario
24.
Viespoli, Luigi Mario
25.
Öeren, Mario
CV
9
1.
Corcoles, Mario Martinez
2.
Garcia, Mario
3.
Kadastik, Mario
4.
Mars, Mario
5.
Martinez-Corcoles, Mario
6.
Martínez-Córcoles, Mario
7.
Roman Garcia, Mario
8.
Román García, Mario
9.
Tonveronachi, Mario 1943-
tema kohta
8
1.
Draghi, Mario, 1947-
2.
Kadastik, Mario
3.
Kadastik, Mario, 1981-
4.
Leier, Mario
5.
Mars, Mario
6.
Nobre von Glehn, Mario
7.
Plaas, Mario
8.
Öeren, Mario
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT