Multiple fault testing in systems-on-chip with high-level decision diagrams
vastutusandmed
Raimund Ubar, Stephen Adeboye Oyeniran, Mario Schölzel, Heinrich T. Vierhaus
allikas
Proceedings of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT) : Dead Sea, Jordan, 14-16 December 2015
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 66-71 : ill
konverentsi nimetus, aeg
10th IEEE International Design & Test Symposium (IDT), 14-16 December, 2015
konverentsi toimumispaik
Dead Sea, Jordan
ISBN
978-1-4673-9993-4
märkused
Bibliogr.: 17 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
võtmesõna
Ubar, R., Oyeniran, S.A., Schölzel, M., Vierhaus, H.T. Multiple fault testing in systems-on-chip with high-level decision diagrams // Proceedings of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT) : Dead Sea, Jordan, 14-16 December 2015. Piscataway : IEEE, 2015. p. 66-71 : ill.