Viilukas, T., Raik, J., Ubar, R., Rannaste, A., Jenihhin, M., Fujiwara, H.

full record print

Constraint-based hierarchical untestability identification for syncronous sequential circuits

author

Viilukas, Taavi

Raik, Jaan

Ubar, Raimund-Johannes

Rannaste, Anna

Jenihhin, Maksim

Fujiwara, Hideo

statement of authorship

Taavi Viilukas, Jaan Raik, Raimund Ubar, Anna Rannaste, Maksim Jenihhin, Hideo Fujiwara

source

Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viienda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. novembril 2011, Nelijärve

location of publication

[Tallinn]

publisher

[Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus]

year of publication

2011

pages

p. 139-142 : ill

conference name, date

Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viies aastakonverents, 25.-26. november 2011

conference location

Nelijärve

ISBN

978-9949-23-218-5

notes

Bibliogr.: 19 ref

language

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

subject term

digitaalintegraallülitused

testid

testimine

Viilukas, T., Raik, J., Ubar, R., Rannaste, A., Jenihhin, M., Fujiwara, H. Constraint-based hierarchical untestability identification for syncronous sequential circuits // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viienda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. novembril 2011, Nelijärve. [Tallinn] : [Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus], 2011. p. 139-142 : ill.