Viilukas, T., Raik, J., Ubar, R., Rannaste, A., Jenihhin, M., Fujiwara, H.

täiskirje prindi

Constraint-based hierarchical untestability identification for syncronous sequential circuits

autor

Viilukas, Taavi

Raik, Jaan

Ubar, Raimund-Johannes

Rannaste, Anna

Jenihhin, Maksim

Fujiwara, Hideo

vastutusandmed

Taavi Viilukas, Jaan Raik, Raimund Ubar, Anna Rannaste, Maksim Jenihhin, Hideo Fujiwara

allikas

Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viienda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. novembril 2011, Nelijärve

ilmumiskoht

[Tallinn]

kirjastus/väljaandja

[Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus]

ilmumisaasta

2011

leheküljed

p. 139-142 : ill

konverentsi nimetus, aeg

Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viies aastakonverents, 25.-26. november 2011

konverentsi toimumispaik

Nelijärve

ISBN

978-9949-23-218-5

märkused

Bibliogr.: 19 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

digitaalintegraallülitused

testid

testimine

Viilukas, T., Raik, J., Ubar, R., Rannaste, A., Jenihhin, M., Fujiwara, H. Constraint-based hierarchical untestability identification for syncronous sequential circuits // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viienda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. novembril 2011, Nelijärve. [Tallinn] : [Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus], 2011. p. 139-142 : ill.