A CAD system for teaching digital test
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Ivask, Eero
Paomets, Priidu
Raik, Jaan
vastutusandmed
R.Ubar, E.Ivask, P.Paomets, J.Raik
allikas
BEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 1
ilmumiskoht
Tallinn
ilmumisaasta
1994
leheküljed
p. 369-372: ill
märksõna
testid
testimine
analüüs
süntees
integraallülitused
raalprojekteerimine
õpetamine
tehnikakõrgkoolid
ISBN
9985-59-012-0
märkused
Bibl. 8 ref
keel
inglise