Functional test program generation for digital systems
vastutusandmed
R.Ubar, J.Dushina, H.Krupnova, S.Storozhev, V.Zaugarov
allikas
Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen : proceedings of the 6th workshop, Vaals (Niederlande), March 6-8, 1994
ilmumisaasta
leheküljed
p. 14-18: ill
märkused
Bibl. 5 ref
keel
inglise
Ubar, R., Dushina, J., Krupnova, H., Storozhev, S., Zaugarov, V. Functional test program generation for digital systems // Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen : proceedings of the 6th workshop, Vaals (Niederlande), March 6-8, 1994., 1994. p. 14-18: ill.