Analysis of barrier inhomogeneities of P-type Al/4H-SiC Schottky barrier diodes

vastutusandmed
Mehadi Hasan Ziko, Ants Koel, Toomas Rang, Jana Toompuu
ilmumiskoht
Zürich
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 960-972
konverentsi nimetus, aeg
18th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019 (ICSCRM 2019), September 29 - October 4, 2019
konverentsi toimumispaik
Kyoto, Japan
kvartiil
Q3
ISSN
1662-9752
märkused
Bibliogr.: 44 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
keel
inglise
Ziko, M.H., Koel, A., Rang, T., Toompuu, J. Analysis of barrier inhomogeneities of P-type Al/4H-SiC Schottky barrier diodes // Silicon Carbide and Related Materials 2019 : 18th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019 (ICSCRM 2019), Kyoto, Japan, September 29 - October 4, 2019. Zürich : Trans Tech Publications, 2020. p. 960-972. (Materials science forum ; 1004). https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.1004.960