prindi

Генерирование тестов микропроцессорных систем на модели АГ

autor
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Убар, Р.
allikas
Техническая диагностика : Тезисы докладов III Международного симпозиума ИМЕКО, Москва, окт. 1983
ilmumiskoht
Москва
kirjastus/väljaandja
Ин-т пробл. упр.
ilmumisaasta
1983
leheküljed
с. 100-103
konverentsi nimetus, aeg
III Международный симпозиум ИМЕКО, окт. 1983
konverentsi toimumispaik
Москва
märksõna
mikroprotsessorid
testimine
matemaatilised mudelid
TTÜ struktuuriüksus
elektronarvutite kateeder
keel
vene
Убар, Р. Генерирование тестов микропроцессорных систем на модели АГ // Техническая диагностика : Тезисы докладов III Международного симпозиума ИМЕКО, Москва, окт. 1983. Москва : Ин-т пробл. упр., 1983. с. 100-103.