prindi

Hybrid BIST optimization using reseeding and test set compaction

autor
Jervan, Gert
Orasson, Elmet
Kruus, Helena
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Gert Jervan, Elmet Orasson, Helena Kruus, Raimund Ubar
allikas
Microprocessors and microsystems
ajakirja aastakäik number kuu
32
ilmumisaasta
2008
leheküljed
5/6, p. 254-262 : ill
leitav
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0141933108000288
märksõna
testimine
optimeerimine
ISSN
0141-9331
märkused
Bibliogr.: 27 ref
keel
inglise
Jervan, G., Orasson, E., Kruus, H., Ubar, R.-J. Hybrid BIST optimization using reseeding and test set compaction // Microprocessors and microsystems (2008) 32, 5/6, p. 254-262 : ill. https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0141933108000288