Functional test generation for finite state machines
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Brik, Marina
Jutman, Artur
Raik, Jaan
Bengtsson, Tomas
Kumar, Shashi
vastutusandmed
R.Ubar, M.Brik, A.Jutman, J.Raik, T.Bengtsson, S.Kumar
allikas
BEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006, Tallinn, Estonia : proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
Tallinn University of Technology
ilmumisaasta
2006
leheküljed
p. 205-208 : ill
konverentsi nimetus, aeg
BEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
märksõna
testimine
VLSI-ahelad
ISBN
1-4244-0414-2
märkused
Bibliogr.: 16 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise