Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Brik, Marina (autor)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
33
Vaata veel..
(3/100)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(33)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
A proposal for optimisation of low-powered FSM testing
Brik, Marina
;
Fomina, Jelena
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW'05) : Odessa, Ukraine, September 15-19, 2005
2005
/
p. 15-20
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
An improved test generation approach for sequential circuits using decision diagrams
Brik, Marina
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings
1998
/
p. 155-158: ill
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
A benchmark suite for evaluating the efficiency of test tools
Kruus, Helena
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Gorev, Maksim
;
Pesonen, Vadim
;
Devadze, Sergei
;
Orasson, Elmet
;
Brik, Marina
;
Min, Mart
;
Annus, Paul
;
Kruus, Margus
;
Meigas, Kalju
BEC 2012 : 2012 13th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 13th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-5, 2012, Tallinn, Estonia
2012
/
p. 85-88 : ill
artikkel kogumikus
4
raamat
Combinatorial algorithms of discrete mathematics
Zakrevskij, Arkadij
;
Pottosin, Yu.
;
Cheremisinova, L.
2008
http://www.ester.ee/record=b2350865*est
raamat
5
artikkel ajakirjas
Defect-oriented mixed-level fault simulation in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Ivask, Eero
;
Brik, Marina
Facta Universitatis [Niš]. Series electronics and energetics
2002
/
1, April, p. 123-136 : ill
artikkel ajakirjas
6
artikkel kogumikus
Diagnostic modeling of microprocessors with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
;
Jenihhin, Maksim
;
Brik, Marina
;
Istenberg, Martin
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
2008
/
p. 147-150 : ill
artikkel kogumikus
7
artikkel kogumikus
E-learning of digital logic
Robal, Tarmo
;
Brik, Marina
;
Aarna, Margit
EWME 2006 proceedings : 6th International Workshop on Microelectronics Education : 8-9 June, 2006, Stockholm, Sweden
2006
/
p. 120-123 : ill
artikkel kogumikus
8
artikkel kogumikus
Functional test generation for finite state machines
Ubar, Raimund-Johannes
;
Brik, Marina
;
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
;
Bengtsson, Tomas
;
Kumar, Shashi
BEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006, Tallinn, Estonia : proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference
2006
/
p. 205-208 : ill
artikkel kogumikus
9
artikkel kogumikus
GA-based test generation for sequential circuits
Brik, Marina
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ivask, Eero
Proceedings of East–West Design & Test Workshop (EWDTW’04) : Yalta, Alushta, Crimea, Ukraine, September 23-26, 2004
2004
/
p. 30-34
artikkel kogumikus
10
artikkel kogumikus
Hardware close programming for freshmen
Kruus, Helena
;
Brik, Marina
;
Kruus, Margus
;
Ruberg, Priit
;
Viies, Vladimir
;
Ellervee, Peeter
10th European Workshop on Microelectronics Education : EWME 2014 : May 14-16, 2014, Tallinn, Estonia
2014
/
p. 93-96 : ill
artikkel kogumikus
11
artikkel kogumikus
A hierarchical automatic test pattern generator based on using alternative graphs
Brik, Marina
;
Jervan, Gert
;
Markus, Antti
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 4th International Workshop Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES'97 : Poznan, Poland, 12-14 June 1997
1997
/
p. 415-420
artikkel kogumikus
12
artikkel kogumikus
Hierarchical concurrent test generation for synchronous sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Brik, Marina
Proceedings of the 7th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2000 : Gdynia, Poland, 15-17 June 2000
2000
/
p. 533-538 : ill
artikkel kogumikus
13
artikkel kogumikus
Hierarchical fault simulation for finite state machines
Brik, Marina
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
The 7th Biennial Conference on Electronics and Microsystem Technology "Baltic Electronics Conference" : BEC 2000 : October 8 - 11, 2000, Tallinn, Estonia : conference proceedings
2000
/
p. 145-148 : ill
artikkel kogumikus
14
artikkel kogumikus
Hierarchical fault simulation in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Ivask, Eero
;
Brik, Marina
International Symposium on Signals, Circuits and Systems : SCS 2001 : July 10-11, 2001, Iasi, Romania : proceedings
2001
/
p. 181-184 : ill
artikkel kogumikus
15
artikkel ajakirjas
Hierarchical physical defect reasoning in digital circuits
Kostin, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Brik, Marina
Estonian journal of engineering
2011
/
3, p. 185-200
artikkel ajakirjas
16
artikkel kogumikus
Hierarchical test generation for digital systems
Brik, Marina
;
Jervan, Gert
;
Markus, Antti
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Mixed design of integrated circuits and systems
1998
/
p. 131-136: ill
artikkel kogumikus
17
artikkel kogumikus
Hierarchical test generation for finite state machines
Brik, Marina
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 1
1994
/
p. 319-324: ill
artikkel kogumikus
18
artikkel kogumikus
High level fault modeling in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Aarna, Margit
;
Brik, Marina
;
Raik, Jaan
Synergies between Information and Automation : 49. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 27.-30.9.2004, Technische Universität Ilmenau, Germany. Volume 2
2004
/
p. 486-491
artikkel kogumikus
19
dissertatsioon
Investigation and development of test generation methods for control part of digital systems
Brik, Marina
2002
http://www.ester.ee/record=b1688656*est
dissertatsioon
20
artikkel kogumikus
Mixed-level defect simulation in data-paths of digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Ivask, Eero
;
Brik, Marina
23rd International Conference on Microelectronics : MIEL 2002, Niš, Yugoslavia, 12-15 May 2002 : proceedings. Volume 2
2002
/
p. 617-620 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1003333
artikkel kogumikus
21
artikkel ajakirjas
Mixed-level test generator for digital systems
Brik, Marina
;
Jervan, Gert
;
Markus, Antti
;
Paomets, Priidu
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering
1997
/
4, p. 271-282 : ill
artikkel ajakirjas
22
artikkel kogumikus
Multi-level fault simulation of digital systems on decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Ivask, Eero
;
Brik, Marina
The First IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications : DELTA 2002, 29-31 January 2002, Christchurch, New Zealand : proceedings
2002
/
p. 86-91 : ill
artikkel kogumikus
23
artikkel kogumikus
Multi-level test generation and fault diagnosis for finite state machines
Ubar, Raimund-Johannes
;
Brik, Marina
Dependable computing : proceedings / EDCC-2, Second European Dependable Computing Conference, Taormina, Italy, October 2-4, 1996
1996
/
p. 264-281: ill
artikkel kogumikus
24
artikkel kogumikus
A new approach to state encoding of low power FSM
Fomina, Jelena
;
Brik, Marina
;
Sudnitsõn, Aleksander
;
Vasiliev, Roman
Proceedings of IEEE East-West Design & Test Workshop : EWDTW'05 : Ukraine
2005
/
p. 21-26
artikkel kogumikus
25
artikkel kogumikus
On using genetic algorithm for test generation
Brik, Marina
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ivask, Eero
BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
2004
/
p. 233-236 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 33, kuvan
1 - 25
eelmine
1
2
järgmine
autor
66
1.
Brik, Marina
2.
Brik, Mikhail
3.
Aghayan, Marina
4.
Alajõe, Marina
5.
Apaydin, Marina
6.
Bachmann, Marina
7.
Bahmann, Marina
8.
Baum, Marina
9.
Beliakova, Marina
10.
Cepenko, Marina
11.
Chesnokova, Marina
12.
Da Rocha Meneses, Lisandra Marina
13.
Dudkina, Marina
14.
Galià, Marina
15.
Golik, Marina
16.
Janusova, Marina
17.
John, Marina E.
18.
Junusova, Marina
19.
Järvis, Marina
20.
Kempinen, Marina
21.
Khalilova, Marina
22.
Kostina, Marina
23.
Krapivina, Marina
24.
Kravets, Marina
25.
Krichevskaya, Marina
26.
Kritševskaja, Marina
27.
Kudrjašova, Marina
28.
Kurvits, Marina
29.
Kuznetsova, Marina
30.
Laskari, Marina
31.
Latonina, Marina
32.
Lohk, Marina
33.
Maran, Marina
34.
Melnik, Marina
35.
Mironova, Marina
36.
Neverdinova, Marina
37.
Panikar, Marina
38.
Pinheiro, Marina J.
39.
Pinheiro, Marina Julio
40.
Pribytkova, Marina
41.
Puz, Marina
42.
Rauk, Marina
43.
Rincon Mendez, Angelica Marina
44.
Romet, Marina
45.
Rõuk, Marina
46.
Seero, Marina
47.
Sergejeva, Marina
48.
Sochacka, Marina
49.
Solesvik, Marina
50.
Suhorutshenko, Marina
51.
Suhorutšenko, Marina
52.
Zanella, Marina
53.
Taul, Marina
54.
Teras, Marina
55.
Toompuu, Marina
56.
Trapido, Marina
57.
Trubatšenko, Marina
58.
Turkina, Marina
59.
Tuuling, Marina
60.
Vaganova, Marina
61.
Walden, Marina
62.
Waldén, Marina
63.
Vaštšenko, Marina
64.
Weck, Marina
65.
Vidrevitš, Marina
66.
Vilop, Marina
CV
23
1.
Brik, Marina 1965
2.
Aghayan, Marina 1987
3.
Arensburger, Marina 1909-1993
4.
Järvis, Marina 1975
5.
Kempinen, Marina
6.
Krapivina, Marina 1974
7.
Kravets, Marina 1978
8.
Krichevskaya, Marina
9.
Kritševskaja, Marina 1974
10.
Kudrjašova, Marina 1963
11.
Lozovskaja, Marina
12.
Neverdinova, Marina 1959
13.
Nikitina, Marina 1965
14.
Rauk, Marina 1963
15.
Rõuk, Marina
16.
Seero, Marina 1929-2011
17.
Sergejeva, Marina 1954
18.
Taul, Marina 1960
19.
Teras, Marina 1968
20.
Toompuu, Marina 1971
21.
Trapido, Marina 1952
22.
Tsibanova, Marina
23.
Wertsinski, Marina
tema kohta
11
1.
Aghayan, Marina
2.
Da Rocha Meneses, Lisandra Marina
3.
Järvis, Marina
4.
Kaljurand, Marina
5.
Kostina, Marina
6.
Kritševskaja, Marina, 1974-
7.
Kudrjašova, Marina
8.
Kuznetsova, Marina
9.
Teras, Marina
10.
Toompuu, Marina
11.
Trapido, Marina, 1952-
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT