Gate-level modelling of NBTI-induced delays under process variations
autor
Copetti, Thiago
Cardoso Medeiros, Guilherme
Bolzani Poehls, Leticia
Vargas, Fabian
Kostin, Sergei
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Thiago Copetti, Guilherme Medeiros, Leticia Bolzani Poehls, Fabian Vargas, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar
allikas
LATS 2016 : 17th IEEE Latin-American Test Symposium, Foz do Iguacu, Brazil, 6th-9th April 2016
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2016
leheküljed
p. 75-80 : ill
konverentsi nimetus, aeg
17th Latin-American Test Symposium, 6-9 April, 2016
konverentsi toimumispaik
Foz do Iguacu, Brazil
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2016.7483343
märksõna
integraallülitused
elutsüklid (tehnika)
võtmesõna
reliability
NBTI
PV
static timing analysis
aging
SPICE
ISBN
978-1-5090-1331-9
märkused
Bibliogr.: 20 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise