Ubar, R., Kostin, S., Raik, J. - TalTech teadusportaal

täiskirje prindi

Multiple stuck-at-fault detection theorem

autor

Ubar, Raimund-Johannes

Kostin, Sergei

Raik, Jaan

vastutusandmed

Raimund Ubar, Sergei Kostin, Jaan Raik

allikas

Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia

ilmumiskoht

Tallinn

kirjastus/väljaandja

IEEE

ilmumisaasta

2012

leheküljed

p. 236-241 : ill

konverentsi nimetus, aeg

IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), April 18-20, 2012

konverentsi toimumispaik

Tallinn

ISBN

978-1-4673-1185-4

märkused

Bibliogr.: 24 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

rikked

testimine

diagnostika (tehnika)

võtmesõna

combinational circuits

multiple faults

fault masking

Ubar, R., Kostin, S., Raik, J. Multiple stuck-at-fault detection theorem // Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia. Tallinn : IEEE, 2012. p. 236-241 : ill.