Post-silicon validation of IEEE 1687 reconfigurable scan networks
vastutusandmed
Aleksa Damljanovic, Artur Jutman, Giovanni Squillero, Anton Tsertov
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
6 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
2019 IEEE European Test Symposium ETS 2019, May 27 - 31, 2019
konverentsi toimumispaik
Baden Baden, Germany
ISSN
1558-1780
1530-1877
ISBN
978-1-7281-1173-5
978-1-7281-1174-2
märkused
Bibliogr.: 14 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Uurimisrühm
Damljanovic, A., Jutman, A., Squillero, G., Tšertov, A. Post-silicon validation of IEEE 1687 reconfigurable scan networks // 2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings. Danvers : IEEE, 2019. 6 p. : ill.