prindi

Post-silicon validation of IEEE 1687 reconfigurable scan networks

autor
Damljanovic, Aleksa
Jutman, Artur
Squillero, Giovanni
Tšertov, Anton
vastutusandmed
Aleksa Damljanovic, Artur Jutman, Giovanni Squillero, Anton Tsertov
allikas
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2019
leheküljed
6 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
2019 IEEE European Test Symposium ETS 2019, May 27 - 31, 2019
konverentsi toimumispaik
Baden Baden, Germany
leitav
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791546
märksõna
pooljuhid
testimine
standardid (normid)
võtmesõna
validation
pattern generation
reconfigurable scan networks
IEEE 1687
ISSN
1558-1780
1530-1877
ISBN
978-1-7281-1173-5
978-1-7281-1174-2
märkused
Bibliogr.: 14 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Damljanovic, A., Jutman, A., Squillero, G., Tšertov, A. Post-silicon validation of IEEE 1687 reconfigurable scan networks // 2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings. Danvers : IEEE, 2019. 6 p. : ill. https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791546