Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
pattern Generation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/119)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Post-silicon validation of IEEE 1687 reconfigurable scan networks
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Squillero, Giovanni
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791546
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Simulation-based equivalence checking between IEEE 1687 ICL and RTL
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Portolan, Michele
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
2019
/
paper. 7.3, 8 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ITC44170.2019.9000181
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
119
1.
automated test pattern generation
2.
automatic test pattern generation
3.
pattern Generation
4.
architecture pattern
5.
circulation pattern
6.
demand time pattern
7.
FP Growth (Frequent-Pattern Growth) algorithm
8.
Image Processing and Pattern Recognition
9.
interaction design pattern
10.
load pattern
11.
nocturnal nondipping pattern
12.
pattern
13.
pattern classification
14.
pattern enumeration
15.
pattern formation
16.
pattern language
17.
pattern matching
18.
pattern mining for event logs
19.
pattern mining from event logs
20.
pattern mining from log files
21.
pattern of life
22.
pattern recognition
23.
pattern search
24.
phase resolved partial discharge (PRPD) pattern
25.
radio frequency pattern matching
26.
ripple pattern formation
27.
Single far-field pattern
28.
test-pattern
29.
Activity-based demand generation
30.
adaptive test strategy generation
31.
automated code generation
32.
automatic code generation
33.
Automatic generation control
34.
automatic GUI model generation
35.
automatic test case generation
36.
automatic test program generation
37.
behaviour level test generation
38.
building and urban form generation
39.
business model generation
40.
code generation
41.
data set generation
42.
decentralized key generation
43.
disaster alert generation
44.
distributed electricity generation
45.
distributed generation
46.
Distributed Generation (DG)
47.
distributed generation systems
48.
distributed power generation
49.
distrubuted power generation
50.
droplet generation
51.
droplet generation rate control
52.
electric power generation
53.
electricity generation
54.
energy generation
55.
extreme penetration level of non synchronous generation
56.
feasible path generation
57.
fifth generation computer
58.
fourth generation district heating
59.
frequent item generation
60.
functional test generation
61.
generation
62.
generation and transmission expansion planning
63.
Generation Costs
64.
generation of electric energy
65.
generation scheduling
66.
generation succession
67.
heat generation
68.
Hierarchical Multi-level Test Generation
69.
high-level test data generation
70.
highlevel test generation
71.
hydroelectric power generation
72.
hydrogen generation
73.
I–III generation
74.
implementation-independent test generation
75.
job generation
76.
knowledge generation
77.
multisine generation
78.
next generation 4D printing
79.
next generation sequencing
80.
Next-generation probiotics
81.
next-generation sequencing
82.
offline test generation
83.
oil-shale power generation
84.
photovoltaic (PV) generation
85.
photovoltaic generation dispatch
86.
power generation
87.
power generation dispatch
88.
power generation economics
89.
power generation planning
90.
provably correct test generation
91.
PV generation
92.
PV power generation
93.
Renewable energy generation
94.
renewable generation
95.
residual generation
96.
rule generation
97.
Second generation bioethanol
98.
second generation of tribology models
99.
second generation sequencing
100.
signal generation
101.
silver generation
102.
solar power generation
103.
space generation advisory council
104.
template based sql generation
105.
test generation
106.
test generation and fault diagnosis
107.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
108.
test program generation
109.
trajectory generation
110.
waste generation
111.
wave generation
112.
white light generation
113.
wind energy generation
114.
wind generation
115.
wind power generation
116.
16S rRNA gene amplicon next-generation sequencing
117.
4GDH (4th generation district heating)
118.
4th generation district heating
119.
5th generation district heating
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT