Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
pattern Generation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/105)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Post-silicon validation of IEEE 1687 reconfigurable scan networks
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Squillero, Giovanni
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791546
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Simulation-based equivalence checking between IEEE 1687 ICL and RTL
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Portolan, Michele
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
2019
/
paper. 7.3, 8 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ITC44170.2019.9000181
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
105
1.
automated test pattern generation
2.
automatic test pattern generation
3.
pattern Generation
4.
architecture pattern
5.
circulation pattern
6.
demand time pattern
7.
FP Growth (Frequent-Pattern Growth) algorithm
8.
Image Processing and Pattern Recognition
9.
interaction design pattern
10.
load pattern
11.
pattern
12.
pattern classification
13.
pattern enumeration
14.
pattern formation
15.
pattern language
16.
pattern matching
17.
pattern mining from event logs
18.
pattern mining from log files
19.
pattern recognition
20.
pattern search
21.
ripple pattern formation
22.
Single far-field pattern
23.
test-pattern
24.
Activity-based demand generation
25.
adaptive test strategy generation
26.
automatic code generation
27.
Automatic generation control
28.
automatic GUI model generation
29.
automatic test case generation
30.
automatic test program generation
31.
behaviour level test generation
32.
building and urban form generation
33.
business model generation
34.
code generation
35.
disaster alert generation
36.
distributed electricity generation
37.
distributed generation
38.
Distributed Generation (DG)
39.
distributed generation systems
40.
distributed power generation
41.
distrubuted power generation
42.
droplet generation
43.
droplet generation rate control
44.
electric power generation
45.
electricity generation
46.
energy generation
47.
extreme penetration level of non synchronous generation
48.
feasible path generation
49.
fifth generation computer
50.
fourth generation district heating
51.
frequent item generation
52.
functional test generation
53.
generation
54.
generation and transmission expansion planning
55.
Generation Costs
56.
generation of electric energy
57.
generation succession
58.
heat generation
59.
high-level test data generation
60.
highlevel test generation
61.
hydroelectric power generation
62.
hydrogen generation
63.
I–III generation
64.
implementation-independent test generation
65.
job generation
66.
multisine generation
67.
next generation 4D printing
68.
next generation sequencing
69.
Next-generation probiotics
70.
next-generation sequencing
71.
offline test generation
72.
oil-shale power generation
73.
photovoltaic (PV) generation
74.
photovoltaic generation dispatch
75.
power generation
76.
power generation dispatch
77.
power generation economics
78.
power generation planning
79.
provably correct test generation
80.
PV generation
81.
PV power generation
82.
Renewable energy generation
83.
renewable generation
84.
residual generation
85.
Second generation bioethanol
86.
second generation of tribology models
87.
second generation sequencing
88.
silver generation
89.
solar power generation
90.
space generation advisory council
91.
template based sql generation
92.
test generation
93.
test generation and fault diagnosis
94.
test program generation
95.
trajectory generation
96.
waste generation
97.
wave generation
98.
white light generation
99.
wind energy generation
100.
wind generation
101.
wind power generation
102.
16S rRNA gene amplicon next-generation sequencing
103.
4GDH (4th generation district heating)
104.
4th generation district heating
105.
5th generation district heating
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT