prindi

Parallel critical path tracing fault simulation in sequential circuits

autor
Kõusaar, Jaak
Ubar, Raimund-Johannes
Kostin, Sergei
Devadze, Sergei
Raik, Jaan
vastutusandmed
Jaak Kõusaar, Raimund Ubar, Sergei Kostin, Sergei Devadze, Jaan Raik
allikas
Proceedings of 25th International Conference MIXED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS : MIXDES 2018 : Gdynia, Poland, June 21–23, 2018
ilmumiskoht
Lodz
kirjastus/väljaandja
Lodz University of Technology
ilmumisaasta
2018
leheküljed
p. 305-310 : ill
konverentsi nimetus, aeg
25th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and System, MIXDES 2018, 21-23 June 2018
konverentsi toimumispaik
Gdynia, Poland
leitav
https://doi.org/10.23919/MIXDES.2018.8436880
märksõna
testimine
rikked
kompuutersimulatsioon
vormimärksõna
konverentsikogumikud
võtmesõna
sequential circuits
stuck-at-faults
design for testability
fault simulation with critical path tracing
ISBN
978-83-63578-13-8
märkused
Bibliogr.: 18 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Kõusaar, J., Ubar, R.-J., Kostin, S., Devadze, S., Raik, J. Parallel critical path tracing fault simulation in sequential circuits // Proceedings of 25th International Conference MIXED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS : MIXDES 2018 : Gdynia, Poland, June 21–23, 2018. Lodz : Lodz University of Technology, 2018. p. 305-310 : ill. https://doi.org/10.23919/MIXDES.2018.8436880