Identification and rejuvenation of NBTI-critical logic paths in nanoscale circuits
autor
Jenihhin, Maksim
Squillero, Giovanni
Tihhomirov, Valentin
Kostin, Sergei
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Maksim Jenihhin, Giovanni Squillero, Thiago Santos Copetti, Valentin Tihhomirov, Sergei Kostin, Marco Gaudesi, Fabian Vargas, Jaan Raik, Matteo Sonza Reorda, Leticia Bolzani Poehls, Raimund Ubar, Guilherme Cardoso Medeiros
allikas
Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)
kirjastus/väljaandja
Springer
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 32, 3
ilmumisaasta
2016
leheküljed
p. 273-289 : ill
leitav
https://doi.org/10.1007/s10836-016-5589-x
märksõna
elektronlülitused
loogikaelemendid
diagnostika (tehnika)
võtmesõna
hardware rejuvenation
aging
NBTI
critical path identification
logic circuit
evolutionary computation
microGP
zamiaCAD
ISSN
0923-8174
märkused
Bibliogr.: 44 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/18040
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84966714453&origin=inward&txGid=3b4ba7ac260a393cbe6bed59b4d314b9
WOS
https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=J%20ELECTRON%20TEST&year=2016
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000377449900004
kategooria (üld)
Engineering
Tehnika
kategooria (alam)
Engineering. Electrical and electronic engineering
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
kvartiil
Q2
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise