Sequential circuit test generation using decision diagram models
autor
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Jaan Raik, Raimund Ubar
allikas
Design, Automation and Test in Europe : DATE : Conference and Exhibition 1999 : Munich, Germany, March 9-12, 1999 : proceedings
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society
ilmumisaasta
1999
leheküljed
p. 736-740: ill
leitav
https://www.cs.york.ac.uk/rts/docs/SIGDA-Compendium-1994-2004/papers/1999/date99/pdffiles/11e_1.pdf
märksõna
elektriahelad
testimine
otsustusdiagrammid
ISBN
0-7695-0078-1
märkused
Bibl. 8 ref
keel
inglise