Wear-out failure analysis of an impedance-source PV microinverter based on system-level electrothermal modeling

vastutusandmed
Yanfeng Shen, Andrii Chub, Huai Wang, Dmitri Vinnikov, Elizaveta Liivik, Frede Blaabjerg
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 66, 5
ilmumisaasta
leheküljed
p. 3914-3927
võtmesõna
electrothermal modeling
photovoltaic (PV) microinverter (MI)
wear-out
ISSN
0278-0046
märkused
Bibliogr.: 61 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
kategooria (üld)
kvartiil
Q1
keel
inglise
Shen, Y., Chub, A., Wang, H., Vinnikov, D., Liivik, E., Blaabjerg, F. Wear-out failure analysis of an impedance-source PV microinverter based on system-level electrothermal modeling // IEEE transactions on industrial electronics (2019) vol. 66, 5, p. 3914-3927. https://doi.org/10.1109/TIE.2018.2831643