kompaktne vaade prindi

Exploration of Activation Fault Reliability in Quantized Systolic Array-Based DNN Accelerators

autor
Taheri, Mahdi
Cherezova, Natalia
Ansari, Mohammad Saeed
Jenihhin, Maksim
Mahani, Ali
Daneshtalab, Masoud
Raik, Jaan
vastutusandmed
Mahdi Taheri, Natalia Cherezova, Mohammad Saeed Ansari, Maksim Jenihhin, Ali Mahani, Masoud Daneshtalab, Jaan Raik
allikas
25th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2024
leheküljed
8 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
25th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 3 April 2024 – 5 April 2024
konverentsi toimumispaik
San Francisco, California, United States
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=10528372
https://doi.org/10.1109/ISQED60706.2024.10528372
märksõna
riistvara
rikked
tehisnärvivõrgud
tehisõpe
kiirendid
efektiivsus
töökindlus
Scopus
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
WOS
Article at WOS
kvartiil
Q3
kategooria (üld)
Tehnika
kategooria (alam)
Tehnika. Ohutus, risk, töökindlus ja kvaliteet
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
Arvutiteadus. Riistvara ja arhitektuur
võtmesõna
deep neural networks
design space exploration
quantization
fault simulation
reliability assessment
ISBN
979-835030927-0
märkused
Bibliogr.: 29 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Seotud publikatsioonid
Taheri, M., Cherezova, N., Ansari, M.S., Jenihhin, M., Mahani, A., Daneshtalab, M., Raik, J. Exploration of Activation Fault Reliability in Quantized Systolic Array-Based DNN Accelerators // 25th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED). : IEEE, 2024. 8 p. : ill. https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=10528372 https://doi.org/10.1109/ISQED60706.2024.10528372