Mutation analysis with high-level decision diagrams
autor
Hantson, Hanno
Raik, Jaan
Jenihhin, Maksim
Tšepurov, Anton
Ubar, Raimund-Johannes
Guglielmo, Giuseppe di
Fummi, Franco
vastutusandmed
Hanno Hantson, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Anton Chepurov, Raimund Ubar, Giuseppe di Guglielmo, Franco Fummi
allikas
LATW2010 : 11th Latin-American TestWorkshop, March 28-31, 2010, Punta del Este, Uruguay
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2010
leheküljed
[6] p. [CD-ROM]
konverentsi nimetus, aeg
11th Latin-American TestWorkshop, 28-31.03.2010
konverentsi toimumispaik
Punta del Este, Uruguay
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/5550336
märksõna
mutatsioonid
analüüs
otsustusdiagrammid
ISBN
978-1-4244-7786-9
keel
inglise