Kruus, H., Ubar, R., Raik, J. - TalTech teadusportaal

täiskirje prindi

Defect-oriented BIST quality analysis

autor

Kruus, Helena

Ubar, Raimund-Johannes

Raik, Jaan

vastutusandmed

H. Kruus, R. Ubar, J. Raik

allikas

BEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia

ilmumiskoht

[Tallinn]

kirjastus/väljaandja

Tallinn University of Technology

ilmumisaasta

2010

leheküljed

p. 153-156 : ill

konverentsi nimetus, aeg

12th Biennial Baltic Electronics Conference, 2010

konverentsi toimumispaik

Tallinn

ISSN

1736-3705

ISBN

978-1-4244-7357-1

märkused

Bibliogr.: 18 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

VLSI-ahelad

testimine

diagnostika (tehnika)

kvaliteet

Kruus, H., Ubar, R., Raik, J. Defect-oriented BIST quality analysis // BEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia. [Tallinn] : Tallinn University of Technology, 2010. p. 153-156 : ill.