Fast extended test access via JTAG and FPGAs
vastutusandmed
Sergei Devadze, Artur Jutman, Igor Aleksejev, Raimund Ubar
allikas
International Test Conference 2009 : November 1 - November 6, 2009, Austin Convention Center, Austin, Texas USA : proceedings
ilmumiskoht
Washington
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 1-7 : ill
konverentsi nimetus, aeg
40th International Test Conference ITC'2009, November 1-6, 2009
konverentsi toimumispaik
Austin, Texas
märksõna
ISSN
1089-3539
ISBN
978-1-4244-4867-8
märkused
Bibliogr.: 13 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Devadze, S., Jutman, A., Aleksejev, I., Ubar, R.-J. Fast extended test access via JTAG and FPGAs // International Test Conference 2009 : November 1 - November 6, 2009, Austin Convention Center, Austin, Texas USA : proceedings. Washington : International Test Conference, 2009. p. 1-7 : ill.