Teaching digital test with BIST analyzer
                                            autor
                                    
                                    
                                
                                            vastutusandmed
                                    
                                    
A. Jutman, A. Tsertov, A. Tsepurov, I. Aleksejev, R. Ubar, H.-D. Wuttke
                                                    
                                            
                                            ilmumiskoht
                                    
                                    
[S.l.]
                                                    
                                            
                                            kirjastus/väljaandja
                                    
                                    
                                
                                            ilmumisaasta
                                    
                                    
                                
                                            leheküljed
                                    
                                    
p. 123-128 : ill
                                                    
                                            
                                            konverentsi nimetus, aeg
                                    
                                    
19th EAEEIE Annual Conference, June 29-July 2, 2008
                                                    
                                            
                                            konverentsi toimumispaik
                                    
                                    
Tallinn, Estonia
                                                    
                                            
                                            ISBN
                                    
                                    
978-1-4244-2008-7
                                                    
                                            
                                            märkused
                                    
                                    
Bibliogr.: 8 ref
                                                    
                                            
                                            TTÜ struktuuriüksus
                                    
                                    
                                
                                            keel
                                    
                                    
inglise
                                                    
                                            
                            Jutman, A., Tšertov, A., Tšepurov, A., Aleksejev, I., Ubar, R., Wuttke, H.-D. Teaching digital test with BIST analyzer // 19th EAEEIE Annual Conference : June 29-July 2, 2008, Tallinn, Estonia : formal proceedings. [S.l.] : IEEE, 2008. p. 123-128 : ill.