RESCUE: interdependent challenges of reliability, security and quality in nanoelectronic systems

autor
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
vastutusandmed
Maksim Jenihhin, Said Hamdioui, Matteo Sonza Reorda, Milos Krstic, Peter Langendoerfer, Christian Sauer, Anton Klotz, Michael Huebner, Joerg Nolte, Heinrich Theodor Vierhaus, Georgios Selimis, Dan Alexandrescu, Mottaqiallah Taouil, Geert-Jan Schrijen, Jaan Raik, Luca Sterpone, Giovanni Squillero, Zoya Dyka
allikas
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 9-13 March 2020, Grenoble, France : proceedings
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
EDAA
ilmumisaasta
2020
leheküljed
art. 19690741 , 6 p
konverentsi nimetus, aeg
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2020), 9 to 13 March, 2020
konverentsi toimumispaik
Grenoble, France
leitav
https://doi.org/10.23919/DATE48585.2020.9116558
märksõna
usaldusväärsus
testimine
turvalisus
veakindlus
võtmesõna
reliability
security
test
fault tolerance
EDA tools
ISBN
978-3-9819263-4-7
märkused
Bibliogr.: 58 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus