Multiple control fault testing in digital systems with high-level decision diagrams
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Oyeniran, Adeboye Stephen
vastutusandmed
Raimund Ubar, Stephen Adeboye Oyeniran
allikas
2016 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR) : THETA 20th edition : 19th-21st May, Cluj-Napoca, Romania : proceedings
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2016
leheküljed
[6] p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
2016 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR), 19-21 May, 2016
konverentsi toimumispaik
Cluj-Napoca, Romania
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/AQTR.2016.7501287
märksõna
elektronlülitused
rikked
testimine
võtmesõna
digital systems
control faults
fault masking
test generation
test optimization
ISBN
978-1-4673-8690-6
märkused
Bibliogr.: 17 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise