Code coverage analysis using high-level decision diagrams [Electronic resource]
autor
Raik, Jaan
Reinsalu, Uljana
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
Ellervee, Peeter
vastutusandmed
Jaan Raik, Uljana Reinsalu, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Peeter Ellervee
allikas
2008 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2008
leheküljed
p. 201-207 : ill. [CD-ROM]
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/4538786
märksõna
modelleerimine (teadus)
mudelid
otsustusdiagrammid
ISBN
978-1-4244-2277-7
märkused
Bibliogr.: 13 ref
keel
inglise