täiskirje prindi

Identifying NBTI-critical paths in nanoscale logic

autor
vastutusandmed
Raimund Ubar, Fabian Vargas, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Sergei Kostin, Letícia Bolzani Poehls
allikas
16th Euromicro Conference series on Digital System Design : DSD 2013 : proceedings : 4-6 September 2013, Santander, Spain
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
CPS
ilmumisaasta
leheküljed
p. 136-141 : ill
konverentsi nimetus, aeg
16th Euromicro Conference series on Digital System Design (DSD 2013), 4-6 September, 2013
konverentsi toimumispaik
Santander, Spain
ISBN
978-0-7695-5074-9
märkused
Bibliogr.: 8 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
NBTI-critical path
path identification
aging
logic circuit
Ubar, R., Vargas, F., Jenihhin, M., Raik, J., Kostin, S., Bolzani Poehls, L. Identifying NBTI-critical paths in nanoscale logic // 16th Euromicro Conference series on Digital System Design : DSD 2013 : proceedings : 4-6 September 2013, Santander, Spain. [S.l.] : CPS, 2013. p. 136-141 : ill.