Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

1

artikkel kogumikus

A global methodology for test program generation starting from high level specificationsStorojev, Sergei; Leveugle, Regis; Saucier, GabrieleBEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 11994 / p. 305-311: ill https://www.ester.ee/record=b2150914*est

artikkel kogumikus

2

artikkel ajalehes

Ameerika keskus ja Põhja-Ameerika ülikoolide teabeksekus Tallinna Tehnikaülikoolis kutsuvad osalemaÕpetajate Leht2020 / Lk. 10 https://www.ester.ee/record=b1072753*est

artikkel ajalehes

3

artikkel kogumikus

Approaches to improve hierarchical ATPG for synchronous sequential circuitsViilukas, TaaviInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kuuenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 3.-5. oktoobril 2012, Laulasmaa2012 / p. 105-108 : ill

artikkel kogumikus

4

artikkel kogumikus

Assembling low-level tests to high-level symbolic test framesJervan, Gert; Markus, Antti; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings [of the] 15th NORCHIP Conference, Tallinn, 10-11 November 19971997 / p. 275-280: ill

artikkel kogumikus

5

artikkel kogumikus

Assessment of river waters and waste waters toxicity using battery of toxicity testsBlinova, IrinaJoint Conference of Scandinavian Society of Cell Toxicology and Estonian Society of Toxicology : (SSCT & ETS 98) : Tallinn, October 23-26, 1998 : program and abstracts1998 / l. 60

artikkel kogumikus

6

artikkel ajakirjas

Aufstellung von Testfolgen für logische SchaltungenPlakk, Mari; Ubar, Raimund-JohannesInternationales wissenschaftliches Kolloquium1979 / S. 93-96 https://www.ester.ee/record=b2936968*est

artikkel ajakirjas

7

artikkel kogumikus

Aus der Testpraxis beim Kommunikativorientierten FremdsprachenunterrichtLobatsch, E.; Mojssejtschuk, A.V Regional Seminar East-West Meeting of Language Testing, Tallinn, September 2-4, 1991 : summaries1991 / p. 64-66

artikkel kogumikus

8

artikkel kogumikus

Automated test pattern generator with constraint solverViilukas, Taavi; Raik, JaanInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK neljanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 26.-27. novembril 2010, Essu mõis2010 / lk. 33-36

artikkel kogumikus

9

artikkel kogumikus

Automatic test generation system for VLSIJervan, Gert; Markus, Antti; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the First Electronic Circuits and Systems Conference : Bratislava, Slovakia, September 4-5, 19971997 / p. 255-258

artikkel kogumikus

10

artikkel ajakirjas

Biotests and biosensors in ecotoxicological risk assessment of field soils polluted with zinc, lead, and cadmiumKahru, Anne; Ivask, Angela; Kasemets, Kaja; Põllumaa, Lee; Kurvet, Imbi; Francois, Matthieu; Dubourguier, Henri-CharlesEnvironmental toxicology and chemistry2005 / 11, p. 2973-2982

artikkel ajakirjas

11

artikkel kogumikus

CAD software for digital test and diagnosticsJervan, Gert; Markus, Antti; Paomets, Priidu; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of International Conference on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Ostrava, Czech Republik, May 12-14, 19971997 / p. 35-40

artikkel kogumikus

12

artikkel kogumikus

A CAD system for teaching digital testUbar, Raimund-Johannes; Ivask, Eero; Paomets, Priidu; Raik, JaanBEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 11994 / p. 369-372: ill

artikkel kogumikus

13

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

CNN based analysis of the Luria’s alternating series test for Parkinson’s disease diagnosticsZarembo, Sergei; Nõmm, Sven; Medijainen, Kadri; Taba, Pille; Toomela, AaroRecent Challenges in Intelligent Information and Database Systems : 13th Asian Conference, ACIIDS 2021, Phuket, Thailand, April 7–10, 2021 : proceedings2021 / p. 3-13 https://doi.org/10.1007/978-981-16-1685-3_1 Conference Proceedings at Scopus Article at Scopus

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

14

artikkel ajakirjas

Combining functional and structural approaches in test generation for digital systemsUbar, Raimund-JohannesMicroelectronics reliability1998 / 3, p. 317-329 : ill

artikkel ajakirjas

15

artikkel kogumikus

Combining symbolic techniques with topological approach in test generationUbar, Raimund-JohannesProceedings of the 3rd Workshop on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, Lodz, May 19961996 / p. 377-382

artikkel kogumikus

16

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

A comprehensive stepped planing hull systematic series : part 1 - resistance testVitiello, Luigi; Mancini, Simone; Niazmand Bilandi, Rasul; Dashtimanesh, Abbas; De Luca, Fabio; Nappo, VincenzoOcean engineering2022 / art. 112242 https://doi.org/10.1016/j.oceaneng.2022.112242 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

17

artikkel kogumikus

Constraint-based hierarchical untestability identification for synchronous sequential circuitsRaik, Jaan; Rannaste, Anna; Jenihhin, Maksim; Viilukas, Taavi; Ubar, Raimund-Johannes; Fujiwara, HideoSixteenth IEEE European Test Symposium : 23-27 May 2011, Trondheim2011 / p. 147-152

artikkel kogumikus

18

artikkel kogumikus

Constraint-based hierarchical untestability identification for syncronous sequential circuitsViilukas, Taavi; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Rannaste, Anna; Jenihhin, Maksim; Fujiwara, HideoInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viienda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. novembril 2011, Nelijärve2011 / p. 139-142 : ill

artikkel kogumikus

19

artikkel kogumikus

Constraints analysis in hierarchical test generation for digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Krupnova, HelenaBEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 11994 / p. 313-318: ill

artikkel kogumikus

20

dissertatsioon

Constraints solving based hierarchical test generation for synchronous sequential circuits = Kitsenduste lahendamisel baseeruv hierarhiline testigenereerimine sünkroonsetele järjestikskeemideleViilukas, Taavi2012 https://www.ester.ee/record=b2888278*est

dissertatsioon

21

artikkel ajakirjas

Correlation between COVID-19 cases and gold price fluctuationGautam, Roshan; Kim, Yoochan; Topal, Erkan; Hitch, Michael WilliamInternational journal of mining, reclamation and environment2022 / p. 574-586 https://doi.org/10.1080/17480930.2022.2077542

artikkel ajakirjas

22

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

CPT, CPTu and DCPT methods for predicting the ultimate bearing capacity of cast in situ displacement piles in silty soilsLeetsaar, Lehar; Korkiala-Tanttu, Leena; Kurnitski, JarekGeotechnical and Geological Engineering2023 / p. 631-652 https://doi.org/10.1007/s10706-022-02292-6 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

23

artikkel kogumikus

Dense components in the structure of WordNetLohk, Ahti; Orav, Heili; Allik, Kaarel; Võhandu, LeoProceedings of the Ninth International Conference on Language Resources and Evaluation (LREC'14) : May 26-31, 2014, Reykjavik, Iceland2014 / p. 1135-1139 : ill

artikkel kogumikus

24

artikkel kogumikus

Design of a digitally controlled resistance and capacitance device for testing of the bio-impedance measurement systemsBirjukov, AndreiInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum2007 / lk. 149-152 : ill

artikkel kogumikus

25

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Design of sustainable ionic liquids based on l-phenylalanine and l-alanine dipeptides : synthesis, toxicity and biodegradation studiesKapitanov, Illia; Raba, Grete; Špulak, Marcel; Vilu, Raivo; Karpichev, Yevgen; Gathergood, NicholasJournal of Molecular Liquids2023 / art. 121285 https://doi.org/10.1016/j.molliq.2023.121285 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

testid (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 4