Comparison of two approaches to improve functional BIST fault coverage

vastutusandmed
Sergei Kostin, Raimund Ubar, Maksim Gorev, Gunnar Mägi
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 105-108 : ill
konverentsi nimetus, aeg
2014 14th Biennial Baltic Electronics Conference, October 6-8, 2014
konverentsi toimumispaik
Tallinn University of Technology
ISSN
1736-3705
ISBN
978-9949-23-672-5
märkused
Bibliogr.: 26 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
võtmesõna
functional BIST
hybrid BIST
test point insertion
Kostin, S., Ubar, R., Gorev, M., Mägi, G. Comparison of two approaches to improve functional BIST fault coverage // BEC 2014 : 2014 14th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 14th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 6-8, 2014, Tallinn, Estonia. Tallinn : Tallinn University of Technology, 2014. p. 105-108 : ill.