prindi

A novel random approach to diagnostic test generation

autor
Osimiry, Emmanuel Ovie
Ubar, Raimund-Johannes
Kostin, Sergei
Raik, Jaan
vastutusandmed
Emmanuel Ovie Osimiry, Raimund Ubar, Sergei Kostin, Jaan Raik
allikas
2nd IEEE NORCAS Conference : 1-2 November 2016, Copenhagen, Denmark
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2016
leheküljed
[4] p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
2nd IEEE NORCAS Conference, 1-2 November, 2016
konverentsi toimumispaik
Copenhagen, Denmark
leitav
https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2016.7792915
märksõna
arvutisüsteemid
digitaalintegraallülitused
rikked
diagnostika (tehnika)
võtmesõna
digital circuits and systems
random diagnostic tests
test generation
diagnostic resolution
ISBN
978-1-5090-1095-0
märkused
Bibliogr.: 14 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise
Osimiry, E.O., Ubar, R., Kostin, S., Raik, J. A novel random approach to diagnostic test generation // 2nd IEEE NORCAS Conference : 1-2 November 2016, Copenhagen, Denmark. Piscataway : IEEE, 2016. [4] p. : ill. https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2016.7792915