Comprehensive performance and robustness analysis of 2D turn models for network-on-chips
autor
vastutusandmed
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Karl Janson, Thilo Kogge, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
allikas
2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 1476-1479 : ill
konverentsi nimetus, aeg
50th IEEE International Symposium on Circuits and Systems, ISCAS 2017, 28.-31. May, 2017
konverentsi toimumispaik
Baltimore, United States
ISSN
2379-447X
0271-4310
ISBN
978-1-4673-6852-0
märkused
bibliogr.: 13 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
WOS
kvartiil
klassifikaator
kategooria (üld)
kategooria (alam)
Azad, S.P., Niazmand, B., Janson, K., Raik, J., Jervan, G., Hollstein, T. et al. Comprehensive performance and robustness analysis of 2D turn models for network-on-chips // 2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS). Piscataway : IEEE, 2017. p. 1476-1479 : ill.