Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
circuit faults (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/81)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
APPRAISER : DNN fault resilience analysis employing approximation errors
Taheri, Mahdi
;
Ahmadilivani, Mohammad Hasan
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Daneshtalab, Masoud
2023 26th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS)
2023
/
p. 124−127
https://ddecs2023.taltech.ee/
https://doi.org//10.1109/DDECS57882.2023.10139468
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Parallel pseudo-exhaustive testing of array multipliers with data-controlled segmentation
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Ubar, Raimund-Johannes
2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) : 27-30 May 2018, Florence, Italy : proceedings
2018
/
5 p.: ill
https://doi.org/10.1109/ISCAS.2018.8350936
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
81
1.
circuit faults
2.
Avoiding Mutual Masking of Multiple Faults
3.
broken rotor bar faults
4.
classification of faults
5.
control faults
6.
Cross-level Modeling of Faults in Digital Systems
7.
faults
8.
faults classification
9.
faults in power system
10.
hard-to-detect faults
11.
high impedance faults
12.
high-level control faults
13.
indefinite faults
14.
inter-disk and inter-turn faults
15.
localization of faults
16.
motor faults
17.
multiple faults
18.
non-robust and functional sensitization of delay faults
19.
power distribution faults
20.
power system faults
21.
rotor faults
22.
Safe Faults
23.
Single Stuck-at Faults
24.
stuck-at-faults
25.
tectonic faults
26.
terms-transient faults
27.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
28.
transient faults
29.
transition delay faults
30.
unknown faults
31.
untestable faults
32.
airflows short-circuit
33.
bidirectional circuit breaker
34.
buck-boost with unfolding circuit
35.
calculation of short-circuit currents
36.
circuit analysis
37.
circuit breaker
38.
circuit breakers
39.
circuit modeling
40.
circuit optimization
41.
circuit simulation
42.
circuit switching
43.
circuit synthesis
44.
converter circuit
45.
core short-circuit
46.
data-controlled circuit partition
47.
dc circuit breaker
48.
dc circuit breaker (DCCB)
49.
digital integrated circuit (IC) design
50.
equivalent circuit
51.
equivalent circuit model
52.
fractional open circuit voltage
53.
gate-level circuit abstraction
54.
High voltage circuit breaker
55.
integrated circuit design
56.
integrated circuit modeling
57.
laminate embedded printed circuit board
58.
logic circuit
59.
magnetic equivalent circuit (MEC)
60.
non-linear circuit
61.
open circuit fault
62.
printed circuit boards
63.
printed circuit boards (PCBs)
64.
RC parallel circuit
65.
RLC circuit
66.
short circuit
67.
short circuit current
68.
short circuit fault
69.
short circuit protection
70.
short-circuit current
71.
short-circuit detection
72.
solid-state circuit breaker
73.
solid-state circuit breaker (SSCB)
74.
solid-state circuit breakers (SSCBs)
75.
z-source circuit breaker
76.
Z-source DC circuit breakers (ZSCB)
77.
turn short-circuit
78.
unfolding circuit
79.
waste printed circuit boards
80.
waste printed circuit boards (WPCBs)
81.
3-D circuit
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT