Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
circuit faults (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/80)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
APPRAISER : DNN fault resilience analysis employing approximation errors
Taheri, Mahdi
;
Ahmadilivani, Mohammad Hasan
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Daneshtalab, Masoud
2023 26th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS)
2023
/
p. 124−127
https://ddecs2023.taltech.ee/
https://doi.org//10.1109/DDECS57882.2023.10139468
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Parallel pseudo-exhaustive testing of array multipliers with data-controlled segmentation
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Ubar, Raimund-Johannes
2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) : 27-30 May 2018, Florence, Italy : proceedings
2018
/
5 p.: ill
https://doi.org/10.1109/ISCAS.2018.8350936
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
80
1.
circuit faults
2.
Avoiding Mutual Masking of Multiple Faults
3.
broken rotor bar faults
4.
classification of faults
5.
control faults
6.
Cross-level Modeling of Faults in Digital Systems
7.
faults
8.
faults in power system
9.
hard-to-detect faults
10.
high impedance faults
11.
high-level control faults
12.
indefinite faults
13.
inter-disk and inter-turn faults
14.
localization of faults
15.
motor faults
16.
multiple faults
17.
non-robust and functional sensitization of delay faults
18.
power distribution faults
19.
power system faults
20.
rotor faults
21.
Safe Faults
22.
Single Stuck-at Faults
23.
stuck-at-faults
24.
tectonic faults
25.
terms-transient faults
26.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
27.
transient faults
28.
transition delay faults
29.
unknown faults
30.
untestable faults
31.
airflows short-circuit
32.
bidirectional circuit breaker
33.
buck-boost with unfolding circuit
34.
calculation of short-circuit currents
35.
circuit analysis
36.
circuit breaker
37.
circuit breakers
38.
circuit modeling
39.
circuit optimization
40.
circuit simulation
41.
circuit switching
42.
circuit synthesis
43.
converter circuit
44.
core short-circuit
45.
data-controlled circuit partition
46.
dc circuit breaker
47.
dc circuit breaker (DCCB)
48.
digital integrated circuit (IC) design
49.
equivalent circuit
50.
equivalent circuit model
51.
fractional open circuit voltage
52.
gate-level circuit abstraction
53.
High voltage circuit breaker
54.
integrated circuit design
55.
integrated circuit modeling
56.
laminate embedded printed circuit board
57.
logic circuit
58.
magnetic equivalent circuit (MEC)
59.
non-linear circuit
60.
open circuit fault
61.
printed circuit boards
62.
printed circuit boards (PCBs)
63.
RC parallel circuit
64.
RLC circuit
65.
short circuit
66.
short circuit current
67.
short circuit fault
68.
short circuit protection
69.
short-circuit current
70.
short-circuit detection
71.
solid-state circuit breaker
72.
solid-state circuit breaker (SSCB)
73.
solid-state circuit breakers (SSCBs)
74.
z-source circuit breaker
75.
Z-source DC circuit breakers (ZSCB)
76.
turn short-circuit
77.
unfolding circuit
78.
waste printed circuit boards
79.
waste printed circuit boards (WPCBs)
80.
3-D circuit
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT