Parallel pseudo-exhaustive testing of array multipliers with data-controlled segmentation
vastutusandmed
Adeboye Stephen Oyeniran, Siavoosh Payandeh Azad, Raimund Ubar
allikas
2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) : 27-30 May 2018, Florence, Italy : proceedings
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
5 p.: ill
konverentsi nimetus, aeg
2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 27-30 May, 2018
konverentsi toimumispaik
Florence, Italy
WOS
kvartiil
kategooria (üld)
kategooria (alam)
vormimärksõna
võtmesõna
ISBN
978-1-5386-4881-0
märkused
Bibliogr.: 28 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Oyeniran, A.S., Azad, S.P., Ubar, R.-J. Parallel pseudo-exhaustive testing of array multipliers with data-controlled segmentation // 2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) : 27-30 May 2018, Florence, Italy : proceedings. Piscataway : IEEE, 2018. 5 p.: ill.