Lai, X., Lange, T., Balakrishnan, A., Alexandrescu, D., Jenihhin, M.

prindi

On antagonism between side-channel security and soft-error reliability in BNN inference engines

autor

Lai, Xinhui

Lange, Thomas

Balakrishnan, Aneesh

Alexandrescu, Dan

Jenihhin, Maksim

vastutusandmed

Xinhui Lai, Thomas Lange, Aneesh Balakrishnan, Dan Alexandrescu, Maksim Jenihhin

allikas

IFIP/IEEE 29th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC)

kirjastus/väljaandja

IEEE

ilmumisaasta

2021

leheküljed

p. 1-6

konverentsi nimetus, aeg

IFIP/IEEE 29th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 04-07 October 2021

konverentsi toimumispaik

Singapore

leitav

https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC53125.2021.9606981

märksõna

tehisnärvivõrgud

kvaliteet

kübersõda

võtmesõna

Binarized Neural Network (BNN)

soft-error reliability

logical de-rating

side-channel attack

Differential Power Analysis (DPA)

ISSN

2324-8440

ISBN

978-1-6654-2614-5

teaduspublikatsioon

klassifikaator

3.1

TTÜ struktuuriüksus

arvutisüsteemide instituut

keel

inglise

Uurimisrühm

Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)

Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus

Lai, X., Lange, T., Balakrishnan, A., Alexandrescu, D., Jenihhin, M. On antagonism between side-channel security and soft-error reliability in BNN inference engines // IFIP/IEEE 29th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC). : IEEE, 2021. p. 1-6. https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC53125.2021.9606981