Taheri, M., Sheikhpour, S., Mahani, A., Jenihhin, M.

prindi

A novel fault-tolerant logic style with self-checking capability

autor

Taheri, Mahdi

Sheikhpour, Saeideh

Mahani, Ali

Jenihhin, Maksim

vastutusandmed

Taheri, Mahdi, Sheikhpour, Saeideh, Mahani, Ali, Jenihhin, Maksim

allikas

Proceedings - 2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2022

ilmumiskoht

Piscataway, New Jersey

kirjastus/väljaandja

IEEE

ilmumisaasta

2022

leheküljed

art. 183305 : ill

konverentsi nimetus, aeg

28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, 12-14 Sept. 2022

konverentsi toimumispaik

Torino, Italy

leitav

https://doi.org/10.1109/IOLTS56730.2022.9897818

märksõna

elektronahelad

veaavastus

enesekontroll

Scopus

võtmesõna

Digital circuits

error detection

logic level

self-checking

ISBN

978-166547355-2

märkused

Bibliogr.: 27 ref

Open Access

teaduspublikatsioon

klassifikaator

3.1

TTÜ struktuuriüksus

arvutisüsteemide instituut

keel

inglise

Uurimisrühm

Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)

Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus

Taheri, M., Sheikhpour, S., Mahani, A., Jenihhin, M. A novel fault-tolerant logic style with self-checking capability // Proceedings - 2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2022. Piscataway, New Jersey : IEEE, 2022. art. 183305 : ill. https://doi.org/10.1109/IOLTS56730.2022.9897818