Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Elst, G. (autor)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
6
Vaata veel..
(1/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(6)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Digital design flow with test activities
Diener, Karl-Heinz
;
Elst, G.
;
Ivask, Eero
;
Jervan, Gert
;
Peng, Z.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
VILAB User Forum
2000
/
[11] p
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
FPGA design flow with automated test generation
Elst, G.
;
Diener, Karl-Heinz
;
Ivask, Eero
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proc. of German 11th Workshop on Test Technology and Reliability of Circuits and Systems : Potsdam, 1999
1999
/
p. 120-123
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Internet-based testability-driven test generation in the virtual environment MOSCITO
Schneider, Andre
;
Diener, Karl-Heinz
;
Elst, G.
;
Ivask, Eero
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
International Federation for Information Processing IFIP : International Workshop on IP-Based SoC Design 2002 : proceedings : Grenoble, October 30-31, 2002
2002
/
p. 357-362 : ill
http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-287433.html
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Virtual laboratory for research in dependable microelectronics
Diener, Karl-Heinz
;
Elst, G.
;
Gramatova, Elena
;
Kuzmicz, W.
;
Peng, Z.
;
Ubar, Raimund-Johannes
The 7th Biennial Conference on Electronics and Microsystem Technology "Baltic Electronics Conference" : BEC 2000 : October 8 - 11, 2000, Tallinn, Estonia : conference proceedings
2000
/
p. 217-220 : ill
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
Построение тестов для проверки операционных частей дискретных систем
Ubar, Raimund-Johannes
;
Lohuaru, Tõnu
;
Štraube, B.
;
Elst, G.
Машинное проектирование электронных устройств и систем
1988
/
с. 65-77
artikkel kogumikus
6
raamat
Электротехника и автоматика
Rüstern, Ennu
;
Keevallik, Andres
;
Kruus, Margus
;
Salum, Kaja
;
Berkman, Boriss
;
Tammemäe, Kalle
;
Alango, Villem
;
Kont, Toomas
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Lohuaru, Tõnu
;
Štraube, B.
;
Elst, G.
;
Bombik, B.
;
Viies, Vladimir
;
Gallai, S.
;
Rang, Toomas
;
Laansoo, Ants
;
Männama, Vello
;
Pikkov, Otto
;
Gurjanov, Boris
;
Opotski, Aleksei
;
Velmre, Enn
1988
https://www.ester.ee/record=b1256708*est
raamat
Kirjeid leitud 6, kuvan
1 - 6
autor
2
1.
Elst, G.
2.
Elst, Günter
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT