Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

Krivenko, Anna (autor)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 7
Vaata veel.. (3/207)
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (7)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Comparative analysis of sequential circuit test generation approachesRaik, Jaan; Krivenko, Anna; Ubar, Raimund-JohannesBEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia2004 / p. 225-228 : ill

artikkel kogumikus
2

artikkel kogumikus

Constraint-based test pattern generation at the register-transfer levelViilukas, Taavi; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund-Johannes; Krivenko, AnnaProceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 14-16, 2010, Vienna, Austria2010 / p. 352-357 : ill http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2010.5491752

artikkel kogumikus
3

artikkel kogumikus

Hierarchical identification of untestable faults in sequential circuitsRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Krivenko, Anna; Kruus, Margus10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, DSD 2007 : 29-31 August 2007, Lübeck, Germany : proceedings2007 / p. 668-671 : ill http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2007.4341539

artikkel kogumikus
4

artikkel kogumikus

New technique for hierarchical identification of untestable faults in sequential circuitsKrivenko, Anna; Ubar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Kruus, MargusInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja2008 / lk. 155-158 : ill

artikkel kogumikus
5

artikkel kogumikus

RT-level identification of potentially testable initialization faultsRaik, Jaan; Fujiwara, Hideo; Krivenko, AnnaThe Ninth IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT 2008), Sapporo, Japan2008 / [6] p https://www.researchgate.net/publication/234032548_RT-level_identification_of_potentially_testable_initialization_faults

artikkel kogumikus
6

artikkel kogumikus

Untestable fault identification in sequential circuits using model-checkingRaik, Jaan; Fujiwara, Hideo; Ubar, Raimund-Johannes; Krivenko, Anna2002-2011 : 20th Anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium2011 / p. 257-262 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/4711554

artikkel kogumikus
7

artikkel kogumikus

Untestable fault identification in sequential circuits using model-checkingRaik, Jaan; Fujiwara, Hideo; Ubar, Raimund-Johannes; Krivenko, AnnaProceedings of the 17th Asian Test Symposium ATS 2008 : November 24-27, 2008, Sapporo, Japan2008 / p. 21-26 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2008.22

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 7, kuvan 1 - 7

1. Agejeva, Anna
2. Andrijanovitš, Anna, 1984-
3. Angerjas, Anna
4. Cowart, Anna
5. Goi, Anna
6. Kaljusaar, Anna
7. Kazantseva, Anna
8. Kidakova, Anna
9. Krasnikova, Anna
10. Kubo, Anna-Liisa
11. Linder, Anna Milena
12. Mihhalevski, Anna
13. Orel, Anna Maria
14. Osula, Anna-Maria
15. Peikolainen, Anna-Liisa
16. Saksa, Anna
17. Suhhova, Anna
18. Suzdalev, Anna
19. Säkki, Anna
20. Tamberg, Anna
21. Traksmaa, Anna
22. Tširkova, Anna
23. Volkova, Anna
24. Öpik, Anna, 1886-1955

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu