Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Untestable fault identification in sequential circuits using model-checking (pealkiri)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/13)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Untestable fault identification in sequential circuits using model-checking
Raik, Jaan
;
Fujiwara, Hideo
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Krivenko, Anna
Proceedings of the 17th Asian Test Symposium ATS 2008 : November 24-27, 2008, Sapporo, Japan
2008
/
p. 21-26 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2008.22
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Untestable fault identification in sequential circuits using model-checking
Raik, Jaan
;
Fujiwara, Hideo
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Krivenko, Anna
2002-2011 : 20th Anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium
2011
/
p. 257-262 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/4711554
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
13
1.
combinational and sequential circuits
2.
sequential circuits
3.
model checking
4.
model-checking
5.
verification by model checking
6.
model identification
7.
nonlinear model identification
8.
fault analysis model
9.
functional fault model
10.
high-level control fault model
11.
high-level fault model
12.
high-level functional fault model
13.
stuck-at fault model
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT